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  • PCT試驗(yàn)機(jī) PCT試驗(yàn)箱

    PCT試驗(yàn)機(jī) PCT試驗(yàn)箱用來測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

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    更新時(shí)間:2024-06-22
  • 高壓加速老化試驗(yàn)機(jī),PCT試驗(yàn)箱

    高壓加速老化試驗(yàn)機(jī),PCT試驗(yàn)箱測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

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  • PCT-35光纖PCT試驗(yàn)箱

    PCT-35光纖PCT試驗(yàn)箱測(cè)試各類產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

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  • 分光器PCT試驗(yàn)箱

    分光器PCT試驗(yàn)箱測(cè)試各類產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

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  • 光分路器PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)

    光分路器PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)主要是測(cè)試光分路器等光電材料封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

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  • 釹鐵硼PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)

    釹鐵硼PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)主要是測(cè)試磁性材料封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

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  • 光分路器PCT試驗(yàn)機(jī),試驗(yàn)箱

    光分路器PCT試驗(yàn)機(jī),試驗(yàn)箱測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試。

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  • PCT高壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)

    PCT高壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

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